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dc.contributor.authorFRANZ, Gérald
dc.contributor.authorBEN ZINEB, Tarak
dc.contributor.authorLEMOINE, Xavier
dc.contributor.authorBERVEILLER, Marcel
dc.contributor.author
 hal.structure.identifier
ABED-MERAIM, Farid 
178323 Laboratoire d'Etude des Microstructures et de Mécanique des Matériaux [LEM3]
dc.date.accessioned2015
dc.date.available2015
dc.date.issued2007
dc.date.submitted2015
dc.identifier.isbn978-0-7354-0414-4
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10985/10476
dc.description.abstractA large strain elastic-plastic single crystal constitutive law, based on dislocation annihilation and storage, is implemented in a new self-consistent scheme, leading to a multiscale model which achieves, for each grain, the calculation of plastic slip activity, with help of regularized formulation drawn from visco-plasticity, and dislocation microstructure evolution. This paper focuses on the relationship between the deformation history of a BCC grain and induced microstructure during monotonic and two-stage strain paths.
dc.description.sponsorshipCNRS & ArcelorMittal
dc.language.isoen
dc.rightsPost-print
dc.subjectComplex strain paths
dc.subjectCrystal plasticity
dc.subjectDislocations
dc.subjectMicrostructure
dc.titleA multiscale model based on intragranular microstructure - Prediction of dislocation patterns at the microscopic scale
dc.identifier.doi10.1063/1.2729486
dc.typdocArticle dans une revue avec comité de lecture
dc.localisationCentre de Metz
dc.subject.halSciences de l'ingénieur: Génie des procédés
dc.subject.halSciences de l'ingénieur: Matériaux
dc.subject.halSciences de l'ingénieur: Mécanique
dc.subject.halSciences de l'ingénieur: Mécanique: Génie mécanique
dc.subject.halSciences de l'ingénieur: Mécanique: Matériaux et structures en mécanique
dc.subject.halSciences de l'ingénieur: Mécanique: Mécanique des matériaux
dc.subject.halSciences de l'ingénieur: Mécanique: Mécanique des solides
dc.subject.halSciences de l'ingénieur: Mécanique: Mécanique des structures
dc.subject.halSciences de l'ingénieur: Micro et nanotechnologies/Microélectronique
ensam.audienceInternationale
ensam.page47-52
ensam.journalAmerican Institute of Physics Conf. Proc
ensam.volume907
hal.identifierhal-01240824
hal.version1
hal.statusaccept


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