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dc.contributor.author
 hal.structure.identifier
LAHOUSSE, Ludovic
107490 Laboratoire de Métrologie et de Mathématiques Appliquées [L2MA]
dc.contributor.author
 hal.structure.identifier
DAVID, Jean-Marie
107490 Laboratoire de Métrologie et de Mathématiques Appliquées [L2MA]
dc.contributor.author
 hal.structure.identifier
LELEU, Stéphane
107490 Laboratoire de Métrologie et de Mathématiques Appliquées [L2MA]
dc.contributor.authorVAILLEAU, Georges-Pierre
dc.contributor.authorDUCOURTIEUX, Sébastien
dc.date.accessioned2014
dc.date.available2014
dc.date.issued2005
dc.date.submitted2014
dc.identifier.issn1772-1792
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10985/7741
dc.description.abstractThe purpose of this paper is to present original concepts offering an uncertainty control advancement for measuring machines. Those concepts were developed from the analysis of phenomena that reduce the machine accuracy constructed around principles of standard architecture. A machine being developed is a concrete materialization of those concepts.
dc.language.isofr
dc.publisherLaboratoire national de métrologie et d'essais (LNE)
dc.rightsPost-print
dc.subjectNanometrology
dc.subjectMetrological loop
dc.subjectdesign of precision measuring machine
dc.subjectdissociated metrological structure
dc.titleApplication d'une nouvelle conception d'architecture à une machine de mesure de résolution nanométrique Application of a new architecture design to a measuring machine with a nanometric resolution
dc.typdocArticle dans une revue avec comité de lecture
dc.localisationCentre de Lille
dc.subject.halSciences de l'ingénieur: Mécanique
dc.subject.halSciences de l'ingénieur: Mécanique: Génie mécanique
ensam.audienceNationale
ensam.page35-43
ensam.journalRevue française de métrologie
ensam.volume2005-4
hal.identifierhal-00941291
hal.version1
hal.statusaccept
dc.identifier.eissn1776-3215


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