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Investigation of subgrains in directionally solidified cast mono-seeded silicon and their interactions with twin boundaries
Article dans une revue avec comité de lecture
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BARRALLIER, Laurent (2020)
X-ray Based in Situ Investigation of Silicon Growth Mechanism Dynamics—Application to Grain and Defect Formation
Article dans une revue avec comité de lecture
; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; BARRALLIER, Laurent (MDPI AG, 2020)