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Machine learning-based 3D scan coverage prediction for smart-control applications
Article dans une revue avec comité de lecture
LI, Tingcheng; POLETTE, Arnaud; LOU, Ruding; ; ; PERNOT, Jean-Philippe (Elsevier BV, 2024-07-20)
On the Use of Quality Metrics to Characterize Structured Light-based Point Cloud Acquisitions
Communication avec acte
LI, Tingcheng; LOU, Ruding; POLETTE, Arnaud; ; ; PERNOT, Jean-Philippe (2022)