Laboratoire d’Ingénierie des Systèmes Physiques Et Numériques (LISPEN): Recent submissions
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Article dans une revue avec comité de lecture; ; ; ; ;
MALBURET, François (American Society of Mechanical Engineers, 2012)
This paper proposes a new modeling approach which is experimentally validated on piezo-electric systems in order to provide a robust Black-box model for complex systems control. Industrial applications such as vibration ... -
Communication avec acte; ; ;MALBURET, François (AHS, 2014)
A kinematic study of a helicopter main rotor control system is carried out to investigate loads in servo actuators and non-rotating scissors during high speed and high load factors maneuvers. The kinematic model is then ...
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Article dans une revue avec comité de lecture; ; ;VERON, Philippe (Association française de gestion industrielle, 2004)
Dans un contexte industriel de plus en plus concurrentiel, les industries se doivent d'adapter leurs méthodes de développement de produits pour réduire les temps de mise sur le marché et les coûts. La solution adoptée par ...
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Article dans une revue avec comité de lecture; ;VERON, Philippe (Springer Verlag, 2009)
Nowadays most digital reconstructions in architecture and archeology describe buildings heritage as awhole of static and unchangeable entities. However, historical sites can have a rich and complex history, sometimes full ...
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Article dans une revue avec comité de lectureTHOMAS, Olivier; ; ; ; ; (American Institute of Physics, 2013)
We report, in this work, on unprecedented levels of parametric amplification in microelectromechanical resonators, operated in air, with integrated piezoelectric actuation and sensing capabilities. The method relies on an ...
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Article dans une revue avec comité de lecture; ; ;BAUDOUIN, Cyrille; BIGOT, Regis (Springer Verlag, 2009)
We present a mathematical method for identifying, separating and quantifying the 3D significant distortions. Measurement of a gas quenched C-ring type sample is performed by a Coordinate Measuring Machine (CMM). Quenching ...
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Article dans une revue avec comité de lecture; ; ; ;GIBARU, Olivier (Korean Society of Precision Engineering,, 2014)
Both contact and non-contact probes are often used in dimensional metrology applications, especially for roughness, form and surface profile measurements. To perform such kind of measurements with a nanometer level of ...
