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On the Use of Quality Metrics to Characterize Structured Light-based Point Cloud Acquisitions

Communication avec acte
Auteur
LI, Tingcheng
LI, Tingcheng
LOU, Rudin
LOU, Rudin
POLETTE, Arnaud
25645 Département d'Informatique et de Recherche Opérationnelle [Montreal] [DIRO]
58355 École Nationale Supérieure des Arts et Métiers [ENSAM]
198056 Aix Marseille Université [AMU]
302452 Université de Montréal [UdeM]
303092 Arts et Métiers Paristech ENSAM Aix-en-Provence
543315 Laboratoire d’Ingénierie des Systèmes Physiques et Numériques [LISPEN]
POLETTE, Arnaud
25645 Département d'Informatique et de Recherche Opérationnelle [Montreal] [DIRO]
58355 École Nationale Supérieure des Arts et Métiers [ENSAM]
198056 Aix Marseille Université [AMU]
302452 Université de Montréal [UdeM]
303092 Arts et Métiers Paristech ENSAM Aix-en-Provence
543315 Laboratoire d’Ingénierie des Systèmes Physiques et Numériques [LISPEN]
SHAO, Zilong
410272 Centre de Recherche en Informatique, Signal et Automatique de Lille - UMR 9189 [CRIStAL]
SHAO, Zilong
410272 Centre de Recherche en Informatique, Signal et Automatique de Lille - UMR 9189 [CRIStAL]
NOZAIS, Dominique
NOZAIS, Dominique
PERNOT, Jean-Philippe
58355 École Nationale Supérieure des Arts et Métiers [ENSAM]
461986 Institut de recherches économiques et sociales [IRES]
527033 Laboratoire d'Informatique et Systèmes [LIS]
543315 Laboratoire d’Ingénierie des Systèmes Physiques et Numériques [LISPEN]
303092 Arts et Métiers Paristech ENSAM Aix-en-Provence
PERNOT, Jean-Philippe
58355 École Nationale Supérieure des Arts et Métiers [ENSAM]
303092 Arts et Métiers Paristech ENSAM Aix-en-Provence
461986 Institut de recherches économiques et sociales [IRES]
527033 Laboratoire d'Informatique et Systèmes [LIS]
543315 Laboratoire d’Ingénierie des Systèmes Physiques et Numériques [LISPEN]

URI
http://hdl.handle.net/10985/23185
DOI
10.14733/cadconfp.2022.344-349
10.14733/cadconfp.2022.344-349
Date
2022

Résumé

Even if 3D acquisition systems are nowadays more and more efficient, the resulting point clouds nevertheless contain quality defects that must be taken into account beforehand, in order to better anticipate and control their effects. Assessing the quality of 3D acquisitions has therefore become a major issue for scan planning. This paper presents several quality metrics that are then studied to identify those that could be used to optimize the acquisition positions to perform an automatic scan. From the experiments, it appears that, when considering multiple acquisition positions, the coverage ratio and score indicator have significant changes and can be used to evaluate the quality of the measurements. Differently, other indicators such as efficacy ratio, registration error and metrological characteristics are insensitive to some acquisition positions

Fichier(s) constituant cette publication

Nom:
LI_CAD_22.pdf
Taille:
2.863Mo
Format:
PDF
Description:
Article principal
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