On the Use of Quality Metrics to Characterize Structured Light-based Point Cloud Acquisitions
Communication avec acte
Auteur

25645 Département d'Informatique et de Recherche Opérationnelle [Montreal] [DIRO]
58355 École Nationale Supérieure des Arts et Métiers [ENSAM]
198056 Aix Marseille Université [AMU]
302452 Université de Montréal [UdeM]
303092 Arts et Métiers Paristech ENSAM Aix-en-Provence
543315 Laboratoire d’Ingénierie des Systèmes Physiques et Numériques [LISPEN]

25645 Département d'Informatique et de Recherche Opérationnelle [Montreal] [DIRO]
58355 École Nationale Supérieure des Arts et Métiers [ENSAM]
198056 Aix Marseille Université [AMU]
302452 Université de Montréal [UdeM]
303092 Arts et Métiers Paristech ENSAM Aix-en-Provence
543315 Laboratoire d’Ingénierie des Systèmes Physiques et Numériques [LISPEN]

410272 Centre de Recherche en Informatique, Signal et Automatique de Lille - UMR 9189 [CRIStAL]

410272 Centre de Recherche en Informatique, Signal et Automatique de Lille - UMR 9189 [CRIStAL]

58355 École Nationale Supérieure des Arts et Métiers [ENSAM]
461986 Institut de recherches économiques et sociales [IRES]
527033 Laboratoire d'Informatique et Systèmes [LIS]
543315 Laboratoire d’Ingénierie des Systèmes Physiques et Numériques [LISPEN]
303092 Arts et Métiers Paristech ENSAM Aix-en-Provence

58355 École Nationale Supérieure des Arts et Métiers [ENSAM]
303092 Arts et Métiers Paristech ENSAM Aix-en-Provence
461986 Institut de recherches économiques et sociales [IRES]
527033 Laboratoire d'Informatique et Systèmes [LIS]
543315 Laboratoire d’Ingénierie des Systèmes Physiques et Numériques [LISPEN]
Résumé
Even if 3D acquisition systems are nowadays more and more efficient, the resulting
point clouds nevertheless contain quality defects that must be taken into account
beforehand, in order to better anticipate and control their effects. Assessing the quality of
3D acquisitions has therefore become a major issue for scan planning. This paper presents
several quality metrics that are then studied to identify those that could be used to optimize
the acquisition positions to perform an automatic scan. From the experiments, it appears
that, when considering multiple acquisition positions, the coverage ratio and score indicator
have significant changes and can be used to evaluate the quality of the measurements. Differently,
other indicators such as efficacy ratio, registration error and metrological characteristics
are insensitive to some acquisition positions
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