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Thermal characterization of the SiO2-Ge2Sb2Te5 interface from room temperature up to 400 °C
(American Institute of Physics, 2010)
Comportement thermo - acoustique d’une interface métal – semiconducteur à changement de phase
(Société Française de Thermique / Congrès Français de Thermique - Energie solaire et thermique, 24 - 27 mai 2011, Perpignan, 2011)
Mesures des propriétés thermiques d’un dépôt submicrométrique d’Al2O3 amorphe déposé par ALD
(Société Française de Thermique / Congrès Français de Thermique - Thermique en conditions extrêmes, 29 mai - 1er juin 2012, Bordeaux, 2012)