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Voici les éléments 1-2 de 2
Thermal characterization of the SiO2-Ge2Sb2Te5 interface from room temperature up to 400 °C
Article dans une revue avec comité de lecture
(American Institute of Physics, 2010)
Mesures des propriétés thermiques d’un dépôt submicrométrique d’Al2O3 amorphe déposé par ALD
Communication avec acte
(Société Française de Thermique / Congrès Français de Thermique - Thermique en conditions extrêmes, 29 mai - 1er juin 2012, Bordeaux, 2012)