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Application d'une nouvelle conception d'architecture à une machine de mesure de résolution nanométrique Application of a new architecture design to a measuring machine with a nanometric resolution 

Article dans une revue avec comité de lecture
LAHOUSSE, Ludovic; DAVID, Jean-Marie; LELEU, Stéphane; VAILLEAU, Georges-Pierre; DUCOURTIEUX, Sébastien (Laboratoire national de métrologie et d'essais (LNE), 2005)

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