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Laboratoire d’Ingénierie des Systèmes Physiques Et Numériques (LISPEN)
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La mesure des angles au BNM-LNE : création d'une nouvelle référence de mesure angulaire

LELEU, Stéphane; DAVID, Jean-Marie; VAILLEAU, Georges-Pierre (Bureau National de Métrologie - Laboratoire National de Métrologie et d'Essais, 2003)

Methodology to Straighten the End Parts of Long Workpieces

BELHADJ AHMED, Abdelwahed; BAUDOUIN, Cyrille; LELEU, Stéphane; BIGOT, Régis; SECORDEL, Pascal (Trans Tech Publications, 2013)

Comparison of experimental and simulation distortions of quenched C-ring test parts

NICOLAS, Cyril; BAUDOUIN, Cyrille; LELEU, Stéphane; TEODORESCU, Mihaela; BIGOT, Régis (Springer, 2009)

Gear geometric control software : approach by entities

BAUDOUIN, Cyrille; BIGOT, Régis; LELEU, Stéphane; MARTIN, Patrick (Springer Link, 2008)

Stratégie de contrôle dimensionnel et identification de la déformation d’un produit. Application à une pièce test traitée thermiquement.

NICOLAS, Cyril; BAUDOUIN, Cyrille; LELEU, Stéphane; TEODORESCU, Mihaela; BIGOT, Régis (2007)

Z calibration of the LNE ultra precision coordinate measuring machine

LAHOUSSE, Ludovic; LELEU, Stéphane; DAVID, Jean-Marie; GIBARU, Olivier; DUCOURTIEUX, Sébastien (EUSPEN, 2007)

CALIBRATION OF CAPACITIVE SENSORS AND ELECTRONIC LEVELS FOR THE STRAIGHTNESS MEASUREMENTS USING MULTIPROBE METHOD

BORIPATKOSOL, Siriwan; LELEU, Stéphane; COOREVITS, Thierry; GIBARU, Olivier (Laboratoire National de Métrologie et d'Essais, 2011)

Création d’un « étalon métrologique » d’une roue dentée sur Machine à Mesurer Tridimensionnelle

BAUDOUIN, Cyrille; DAVID, Jean-Marie; LELEU, Stéphane; BIGOT, Régis; GIBARU, Olivier (2007)

LNE Activies in Nanometrology: flatness reference calibration algorithm

LAHOUSSE, Ludovic; BORIPATKOSOL, Siriwan; LELEU, Stéphane; DAVID, Jean-Marie; DUCOURTIEUX, Sébastien; COOREVITS, Thierry; GIBARU, Olivier (EUSPEN, 2008)

Application d'une nouvelle conception d'architecture à une machine de mesure de résolution nanométrique Application of a new architecture design to a measuring machine with a nanometric resolution

LAHOUSSE, Ludovic; DAVID, Jean-Marie; LELEU, Stéphane; VAILLEAU, Georges-Pierre; DUCOURTIEUX, Sébastien (Laboratoire National de Métrologie et d'Essais, 2005)