• français
    • English
    English
  • Ouvrir une session
Aide
Voir le document 
  •   Accueil de SAM
  • Laboratoire d’Ingénierie des Systèmes Physiques Et Numériques (LISPEN)
  • Voir le document
  • Accueil de SAM
  • Laboratoire d’Ingénierie des Systèmes Physiques Et Numériques (LISPEN)
  • Voir le document
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Approximation par des B-Splines de solutions optimales pour des problèmes LQ : une estimation a posteriori de l’erreur

Article dans une revue avec comité de lecture
Auteur
AUQUIERT, Philippe
53322 Laboratoire de Mathématiques et leurs Applications de Valenciennes - EA 4015 [LAMAV]
PERRUQUETTI, Wilfrid
183073 Laboratoire d'Automatique, Génie Informatique et Signal [LAGIS]
ccGIBARU, Olivier
107490 Laboratoire de Métrologie et de Mathématiques Appliquées [L2MA]

URI
http://hdl.handle.net/10985/6483
DOI
doi : 10.3845/e-sta.2006.n4
Date
2006

Résumé

Nous proposons une alternative à l’équation de Riccati lors de la résolution de systèmes linéaires quadratiques en contrôle optimale. Une transformation de l’équation d’état basée sur la forme de Brunoswski de ce système permet de mettre en évidence une représentation sous la forme de sorties dites plates. Le système ainsi transformé nous permet d’exprimer le problème de contrôle optimal sous la forme d’un problème variationnel. Une approximation par une B-Spline des sorties plates est proposée ainsi que la majoration a posteriori de l’erreur commise. L’intérêt de cette majoration d’erreur est qu’elle permet d’optimiser le placement des noeuds de la B-Spline afin de satisfaire une tolérance donnée.

Fichier(s) constituant cette publication

Nom:
03-eSTA-V12.pdf
Taille:
610.3Ko
Format:
PDF
Voir/Ouvrir

Cette publication figure dans le(s) laboratoire(s) suivant(s)

  • Laboratoire d’Ingénierie des Systèmes Physiques Et Numériques (LISPEN)

Documents liés

Visualiser des documents liés par titre, auteur, créateur et sujet.

  • On the relevance of large scale pulsed-laser deposition: Evidence of structural heterogeneities in ZnO thin films 
    Article dans une revue avec comité de lecture
    PERRIÈRE, J; HEBERT, C; JEDRECY, N.; SEILER, Wilfrid; ZANELLATO, Olivier; PORTIER, X; PEREZ-CASERO, R; MILLON, E; NISTOR, M (American Institute of Physics, 2014)
    Pulsed-laser deposition is known as a well-suited method for growing thin films of oxide compounds presenting a wide range of functional properties. A limitation of this method for industrial process is the very anisotropic ...
  • A simple and generic CAD/CAM approach for AFM probe-based machining 
    Communication avec acte
    BROUSSEAU, Emmanuel; ARNAL, Benoît; THIERY, Stéphane; ccNYIRI, Eric; ccGIBARU, Olivier (LAMDAMAP, 2015)
    Atomic Force Microscopy (AFM) probe-based machining allows surface structuring at the nano-scale via the mechanical modification of material. This results from the direct contact between the tip of an AFM probe and the ...
  • Solving a Discrete Lot Sizing and Scheduling Problem with Unrelated Parallel Machines and Sequence Dependent Setup Using a Generic Decision Support Tool 
    Chapitre d'ouvrage scientifique
    SILVA, Cristovao; ccKLEMENT, Nathalie; ccGIBARU, Olivier (Springer, 2017)
    In any manufacturing systems, planning and scheduling are not intuitive. Some dedicate tools may exist to help some specific companies to daily plan and assign their activities. Our purpose is to develop a generic decision ...
  • FIR Filter-Based Online Jerk-Controlled Trajectory Generation 
    Communication avec acte
    BESSET, Pierre; ccBEAREE, Richard; ccGIBARU, Olivier (2016)
    This paper presents a novel approach to generate online jerk-limited trajectories for multi-DOF robotic systems. Finite Impulse Response filters are used to efficiently turn low computational cost acceleration-limited ...
  • Comparison of tactile and chromatic confocal measurements of aspherical lenses for form metrology 
    Article dans une revue avec comité de lecture
    EL HAYEK, Nadim; NOUIRA, Hichem; ANWER, Nabil; DAMAK, Mohamed; ccGIBARU, Olivier (Korean Society of Precision Engineering,, 2014)
    Both contact and non-contact probes are often used in dimensional metrology applications, especially for roughness, form and surface profile measurements. To perform such kind of measurements with a nanometer level of ...

Parcourir

Tout SAMLaboratoiresAuteursDates de publicationCampus/InstitutsCe LaboratoireAuteursDates de publicationCampus/Instituts

Lettre Diffuser la Science

Dernière lettreVoir plus

Statistiques de consultation

Publications les plus consultéesStatistiques par paysAuteurs les plus consultés

ÉCOLE NATIONALE SUPERIEURE D'ARTS ET METIERS

  • Contact
  • Mentions légales

ÉCOLE NATIONALE SUPERIEURE D'ARTS ET METIERS

  • Contact
  • Mentions légales